国产无限无码精品免费_国产精品黄色视频一站_国产草草影院一区二区三区_91亚洲国产AⅤ精品一区二区

第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
Prober

適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支持常高溫測試。 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴(kuò)展

型號(hào) Prober
產(chǎn)品介紹 適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。
功能 ? 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。
? 高精度定位平臺(tái)。
? 支持常高溫測試。
? 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232接口。