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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類(lèi)
 
QT-3105 TRR 二極體反向恢復(fù)測(cè)試

自研LCR數(shù)字電橋，支持Mosfet RG/CG測(cè)試，也可以用于測(cè)試二極管的電容測(cè)試，分辨率1fF



獨(dú)立程控電源

支援雙DIE

雙通道測(cè)試

波形顯示

型號(hào) QT-3105TRR
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 支援雙芯TRR參數(shù)測(cè)試，具備VRR電壓探頭
主要特點(diǎn) ?輸出能力IF 100A VR 1KV di/dt>1000A 測(cè)量解析度0.1ns

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